Sistem Pemeriksaan Sinar-X dengan Peningkatan Deteksi Material Asing Lunak Model IX-G2-F

Deteksi Material Asing Lunak yang Sangat Sensitif

IX-G2-F dapat membantu meningkatkan kualitas produk Anda dan meningkatkan tingkat hasil Anda. 

 

• Kesalahan Deteksi Berkurang

Alat ini dapat meningkatkan akurasi kalibrasi, mengurangi noise dan memperbaiki kualitas gambar, sehingga mengurangi kesalahan deteksi. 

• Efektif Bahkan dengan Produk yang Besar

Metode pendeteksian telah ditingkatkan untuk mendeteksi di area dengan proyeksi gambar yang buram. Tingkat presisi pendeteksian telah ditingkatkan untuk produk berukuran besar dibandingkan dengan model Ishida sebelumnya.

 

Mencapai Sensitivitas yang Lebih Tinggi untuk Produk yang Tumpang Tindih Dibandingkan Model Ishida Sebelumnya

Perbandingan sensitivitas dari IX-G2-F dan model sebelumnya dari Ishida, dengan benda pengujian lembaran aluminium (strip 6) dan benda pengujian bola kaca kuarsa (strip 5) yang ditempelkan.

 

Beragam Opsi: Pilih Model yang Sesuai dengan Kebutuhan Anda